±¸ºÐ |
ºÐ¾ß |
³í¹®¸í |
¼º¸í |
¼Ò¼Ó |
ÃÖ¿ì¼ö |
ÃÖÀûÈ ÀÌ·Ð ¹× ÀÀ¿ë |
Å©±â ÁöÁ¤À» Çã¿ëÇÏ´Â 2-staged 2Â÷¿ø ºó ÆÐÅ· ¹®Á¦ ÈÄÆÇ ³¯ÆÇ ¼³°è |
À§ÁÖ¿µ |
Æ÷Ç×°ø°ú´ëÇб³ |
¿ì¼ö |
ºñÇà ½ºÄÉÁì º¯µ¿¿¡ °°Ç¼ºÀ» °®´Â ÁÖ±âÀå ¹èÁ¤ ¹®Á¦ÀÇ ÃÖÀûÈ ÇØ¹ý |
À±¼¼¿µ |
KAIST |
ÃÖ¿ì¼ö |
»ý»ê°ü¸® ¹× ¹°·ù°ü¸® |
À¯Çѿ뷮 Flexible Manufacturing Systems (FMS) ½ºÄÉÁ층 ¹®Á¦¿¡
´ëÇÑ È¿À²ÀûÀΠŽ»ö ¾Ë°í¸®Áò ¿¬±¸ |
±èȲȣ |
¾ÆÁÖ´ëÇб³ |
¿ì¼ö |
»ý»ê´É·Â ÇÊÅ͸µ ¾Ë°í¸®Áò ±â¹ÝÀÇ TFT-LCD Fab ÅõÀÔ°èȹ »ý¼º ¹æ¹ý·Ð |
¼ÕÇмö |
KAIST |
ÃÖ¿ì¼ö |
È®·ü¸ðÇü,ÀÀ¿ëÅë°è,ǰÁú°ü¸® |
Spline Regression°ú Support Vector MachineÀ» ÀÌ¿ëÇÑ ÁÖ±â
½ÅÈ£ µ¥ÀÌÅÍÀÇ ÀÌ»ó °¨Áö¿¡ °üÇÑ ¿¬±¸ |
¹ÚÁ¾Çõ |
°í·Á´ëÇб³ |
¿ì¼ö |
The reliability analysis in gate oxide of MOSFET via percolation models |
±è¸¸¼ö |
ÇѾç´ëÇб³ |
ÃÖ¿ì¼ö |
MIS ¹× °æ¿µ°ü·Ã ºÐ¾ß |
BSC¿Í Fuzzy AHP¸¦ Ȱ¿ëÇÑ WEB ±â¹ÝÀÇ BPM ´ë»ó ÇÁ·Î¼¼½º
¼±Á¤¿¡ °üÇÑ ¿¬±¸ |
À̽½Š|
¿ï»ê´ëÇб³ |
¿ì¼ö |
³×Æ®¿öÅ© ¿ÜºÎ¼ºÀ» ¹Ý¿µÇÑ ¼±Á¡»óǰ°ú ÈĹ߻óǰÀÇ °æÀï ¸ðÇü ¿¬±¸ |
À̱¤ÀÌ |
¼º±Õ°ü´ëÇб³ |
ÃÖ¿ì¼ö |
Àΰ£°øÇÐ |
ÀÛÀºÈ¸é¿¡¼ÀÇ ÀÎÅÍ³Ý ÀÛ¾÷À» À§ÇÑ È¿À²ÀûÀΠȸé À̵¿ ¹æ¹ý ¹×
Á¦¾È ¹× ¼º´É Æò°¡ |
ÃÖÀºÁ¤ |
Æ÷Ç×°ø°ú´ëÇб³ |
¿ì¼ö |
¸ð¹ÙÀÏ ±â±âÀÇ »ç¿ëÀÚ ÀÎÅÍÆäÀ̽º ¼³°è µµ±¸·Î¼ Trajectory
Mapping ¹æ¹ý¿¡ °üÇÑ ¿¬±¸ |
À̼®¿ø |
°í·Á´ëÇб³ |