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D2
4차 산업혁명/산업인공지능 (10)
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D2-1
잡음에 강건한 웨이블릿 변환 기반의 Autoencoder with Long Short Term Memory - Neural Network PID 제어
D2-2
Extracting Aspects of Employee Experience and Firm Characteristics with Unsupervised Learning Models
D2-3
회전 합 이미지 특질 결합 방법론을 활용한 웨이퍼 맵 불량 패턴 분류 (Defect Pattern Classification Using Rotated-Sum Image Feature Concatenation on Wafer Bin Maps)
